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    bruker白光干涉儀

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    bruker布魯克三維光學表面測量系統GT-X
    Bruker GT-X型三維光學表面測量系統是Bruker 公司三維光學顯微鏡Contour系列中的旗艦產品。具備全自動、大樣品測試能力的GT-X是目前市場上大視場、垂直分辨率最高、可定標的計量式表面測試系統。從最基本概念設計開始,GT-X就是為滿足目前最具挑戰性的測量需求,如產品研發、質量保證和工藝監控等各種苛刻要求,而打造的。
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    布魯克三維光學輪廓儀ContourX-200 檢測設備
    ContourX-200光學輪廓儀完美融合了高級表征、可定制選項和易用性,可提供一流的快速、準確和可重復的非接觸式三維表面計量方法。該設備作為可用于計量的小尺寸系統,配置了大視場的5百萬像素攝像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。
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    布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500 檢測設備
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